ODUクイックチェンジヘッド(QCH)

従来のケーブル接続部の代わりに、フラットソケットはケーブル接続部がプラグピン形状になっています。これを、お客様の要件に応じてアセンブリされたコネクタがすでに組み込まれたODU SPRINGTAC®またはODU LAMTAC®のソケットに接続して、使用することができます。ODU SPRINGTAC®フラットソケット・QCH接続タイプは、交換可能な部品に実装されます:追加アセンブリの作業なしでテストアダプタが簡単に交換できます。

ODUクイックチェンジヘッド(QCH)

従来のケーブル接続部の代わりに、フラットソケットはケーブル接続部がプラグピン形状になっています。これを、お客様の要件に応じてアセンブリされたコネクタがすでに組み込まれたODU SPRINGTAC®またはODU LAMTAC®のソケットに接続して、使用することができます。ODU SPRINGTAC®フラットソケット・QCH接続タイプは、交換可能な部品に実装されます:追加アセンブリの作業なしでテストアダプタが簡単に交換できます。

安定した低接触抵抗

安定した低接触抵抗と多数の接触面により、この接続システムは常に信頼できる計測結果を提供します。さらにコンタクトはことに長寿命で堅牢なので、何年も安心してテスト用コンポーネントをお使いいただけます。

試験・測定分野のために開発

ODU SPRINGTAC®フラットソケットは、大量生産や通電試験などにおいて、自動車エレクトロニクス分野、機器製造分野のアプリケーションで信頼性高い結果が得られます。

ODUクイックチェンジヘッド(QCH)

従来のケーブル接続部の代わりに、フラットソケットはケーブル接続部がプラグピン形状になっています。これを、お客様の要件に応じてアセンブリされたコネクタがすでに組み込まれたODU SPRINGTAC®またはODU LAMTAC®のソケットに接続して、使用することができます。ODU SPRINGTAC®フラットソケット・QCH接続タイプは、交換可能な部品に実装されます:追加アセンブリの作業なしでテストアダプタが簡単に交換できます。

ODUクイックチェンジヘッド(QCH)

従来のケーブル接続部の代わりに、フラットソケットはケーブル接続部がプラグピン形状になっています。これを、お客様の要件に応じてアセンブリされたコネクタがすでに組み込まれたODU SPRINGTAC®またはODU LAMTAC®のソケットに接続して、使用することができます。ODU SPRINGTAC®フラットソケット・QCH接続タイプは、交換可能な部品に実装されます:追加アセンブリの作業なしでテストアダプタが簡単に交換できます。

安定した低接触抵抗

安定した低接触抵抗と多数の接触面により、この接続システムは常に信頼できる計測結果を提供します。さらにコンタクトはことに長寿命で堅牢なので、何年も安心してテスト用コンポーネントをお使いいただけます。

試験・測定分野のために開発

ODU SPRINGTAC®フラットソケットは、大量生産や通電試験などにおいて、自動車エレクトロニクス分野、機器製造分野のアプリケーションで信頼性高い結果が得られます。

ODU SPRINGTAC® フラットソケット

スプリングワイヤーテクノロジーを採用したフラットソケット

安定した接触抵抗
ワイヤスプリング技術
ケーブルアセンブリ込み
最大5万回の着脱回数
ODU SPRINGTAC®フラットソケットについて質問がおありですか?

お気軽にお問い合わせください。

スプリングワイヤ―技術を搭載したODU SPRINGTAC®フラットソケットは、ことに試験・測定分野における高感度が求められる要件をサポートします。大通電容量の試験でもソケットコンタクトは信頼できる精確な計測結果をもたらし、試験サイクルが多くても安定した低接触抵抗を実現します。コンパクトなデザインですので、フラットソケットは通常使われているどのグリッドにもご使用いただけます。

  • 回数の多い試験サイクルにも最適
  • 2 / 4端子法(ケルビン測定)に対応したバージョン
  • 試験アダプタおよび交換インサートに理想的
  • 大通電容量

ODU SPRINGTAC®フラットソケット応用例

ODU SPRINGTAC®フラットソケットは、ことに試験・測定分野のために開発され、大通電容量の試験でも確実な導通を提供します。

最高の光接続にはODU Fiber Optic

過酷な環境、多数の着脱が求められる分野、そして標準要件にぴったりのソリューション

信頼性こそ第一

ODU SPRINGTAC®フラットソケットは、従来のフラットソケットとはまったく異なる、試験・測定分野に最適の長寿命で完璧なフラットソケットです。安定した低接触抵抗により微細な値の精確な計測だけでなく、大通電容量の試験に適しています。